Sähköiset osat : SNJ54BCT8374AFK

Valmistaja : Texas Instruments

Packing :

Pins :

Kuvaus : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Lämpötila : Min °C | Max °C

Datasheet : SNJ54BCT8374AFK PDF

• SNJ54BCT8373AFK
• SNJ54BCT8373AJT
• SNJ54BCT8374AFK
• SNJ54BCT8374AJT